证券之星 03-01
京东方A获得发明专利授权:“一种平板探测器及其残像校正的方法、检测系统”
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证券之星消息,根据天眼查 APP 数据显示京东方A(000725)新获得一项发明专利授权,专利名为 " 一种平板探测器及其残像校正的方法、检测系统 ",专利申请号为 CN202210258090.9,授权日为 2025 年 2 月 28 日。

专利摘要:本发明公开了一种平板探测器及其残像校正的方法、检测系统,用以解决现有技术中存在的校正 X 射频探测器采集的图像不够快速、准确的技术问题,该方法包括:获取当前采集的第一图像与上次采集的第二图像的时间差;根据所述时间差与所述闪烁体对应的光衰减时长的大小关系,确定在采集所述第二图像时所述平板探测器的闪烁体所致残像,在所述平板探测器采集所述第一图像时的环境温度下所述残像的灰度,并将所述残像的灰度作为所述第一图像对应的灰度校正量;用所述灰度校正量对所述第一图像进行残像校正,获得校正后的第一图像。

今年以来京东方A新获得专利授权 498 个,较去年同期减少了 3.3%。结合公司 2024 年中报财务数据,2024 上半年公司在研发方面投入了 58.06 亿元,同比增 10.24%。

数据来源:天眼查 APP

以上内容为证券之星据公开信息整理,由智能算法生成(网信算备 310104345710301240019 号),不构成投资建议。

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