IT之家 06-24
消息称三星电子 1c 纳米内存良率明显提升,设计改进起到关键作用
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IT 之家 6 月 24 日消息,参考韩媒 SEDaily 当地时间本月 19 日报道和另一家韩媒 MK 的今日报道,三星电子的第六代 10 纳米级(IT 之家注:即 1c nm)DRAM 内存工艺在设计改进等的推动下良率明显提升。

SEDaily 在报道中宣称,三星去年 1c nm 内存的良率还不到 30%,而在今年五月的性能测试中良率达到了 50%~70%;MK 则提到了 60% 以上的近期良率数据。

两家韩媒都表示,良率的明显提升是大胆的设计变更的作用,这虽然会导致量产时间的延后,但在技术层面取得了显著的改进。

由于在 HBM 市场的失利,三星电子在今年一季度将 DRAM 内存营收第一的宝座拱手让给 SK 海力士。考虑到三星的 HBM4 内存就基于 1c nm DRAM,该工艺的良率改善有望为三星重振旗鼓打下坚实基础。

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