（全球 TMT2025 年 3 月 12 日讯）国际电工委员会（IEC）正式发布《声表面波器件用单晶晶片规范与测量方法》（IEC 62276:2025），首次明确了压电材料的光学性能标准。三安滤波器晶体团队在关于透过率（晶片黑化程度）的相关技术要求和测量方法上做出重要贡献。

声表面波（SAW）滤波器作为射频前端的核心组件，其市场需求正不断增长。此次 IEC 发布的新标准由中国企业主导修订，标志着中国在高端压电材料领域实现从技术跟随到规则制定的跨越。泉州三安集成（原晶安光电团队）依托三安光电的研发制造经验，持续投入 LN/LT 压电材料制备工艺的研发，并在新标准论证过程中提出了多项技术性修改内容，纳入了新标准中主要的修订内容之一。