金融界 8小时前
博世申请带有集成状态监测的MEMS继电器专利,用于监测MEMS继电器的磨损
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国家知识产权局信息显示,罗伯特 · 博世有限公司申请一项名为 " 带有集成状态监测的 MEMS 继电器和用于运行 MEMS 继电器的方法 " 的专利,公开号 CN122150824A,申请日期为 2025 年 12 月。

专利摘要显示,本发明涉及一种带有集成状态监测的 MEMS 继电器以及一种用于运行 MEMS 继电器的方法。本发明还涉及一种用于监测 MEMS 继电器的磨损的方法、一种用于监测 MEMS 继电器的电负载的方法以及一种用于监测 MEMS 继电器的热负载的方法。

声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为 AI 基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。

本文源自:市场资讯

作者:情报员

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