国家知识产权局信息显示，武汉精测电子集团股份有限公司申请一项名为 " 一种 Mura 检测算法的验证与评估方法及系统 " 的专利，公开号 CN122597397A，申请日期为 2026 年 7 月。

专利摘要显示，本申请属于显示面板缺陷检测技术领域，具体公开了一种 Mura 检测算法的验证与评估方法及系统，该方法包括：利用图像处理矩阵数据集对预设 Mura 图像库中的 Mura 测试图进行图像处理，得到算法测试图像数据集；图像处理矩阵数据集中的每个图像处理矩阵数据均是基于不同类型屏体的光谱特性数据和不同类型图像采集设备的光谱响应数据确定的；分别对各类 Mura 检测算法进行多项性能测试的验证，得到通过验证的各类目标 Mura 检测算法；利用算法测试图像数据集对各类目标 Mura 检测算法进行多维度评估，确定各类所述目标 Mura 检测算法的评估结果。通过本申请，可以大提高 Mura 检测算法评估结果的准确率，提升评估可靠性。

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作者：情报员