观研天下 5小时前
硅光量产化关键关卡——我国硅光芯片测试设备行业需求全面爆发
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当前,全球硅光测试设备市场正以超 20% 的年复合增长率快速扩张,预计 2032 年将达 75 亿元量级。这一增长由 AI 算力需求井喷、800G/1.6T 高速光互连规模化部署、硅光制造工艺走向成熟以及 CPO/PIC-EIC 混合键合结构催生全新测试工序等多重因素协同驱动。在竞争格局上,Advantest、Keysight、FormFactor 等国际巨头仍主导高端 ATE 平台与精密光学对准市场,但联讯仪器、普赛斯电子、思仪科技等本土企业正从 " 仪器商 + 探针台厂 + 系统集成商 " 的松散拼装向成套 ATE 化方案演进,在硅光晶圆级测试和高速光模块测试领域实现关键突破。在 " 硅光量产放量、CPO 技术路线确立、国产替代加速 " 的三重共振下,硅光芯片测试设备正从光通信产业链的 " 配套环节 " 升级为决定硅光产业化的 " 核心关卡 ",一个黄金赛道正在加速开启。

1、硅光芯片测试设备:晶圆级测试需求成为核心增量

根据观研报告网发布的《中国硅光芯片测试设备行业发展现状分析与投资前景预测报告(2026-2033 年)》显示,硅光模块是一种基于硅基 CMOS 工艺,将调制器、探测器、波导等光电元件,集成于一颗硅光芯片上的高集成度光模块。传统分立式光模块中,上述器件均为独立的玻璃基或化合物半导体元件,需通过光纤逐一连接封装,元件数量多、手工对准工序复杂。硅光模块则以一颗硅光芯片替代大部分分立器件功能,仅保留激光器等少数外置光源,片上波导替代光纤实现互联,集成度大幅提升。

硅光模块的结构示意图

资料来源:观研天下整理

根据羲禾科技招股说明书援引光模块厂商测算,在实现相同的传输速率和传输距离的条件下,硅光方案总成本可降低近 20%,模块内组件体积减少近 30%,功耗及可靠性表现均优于分立光电子器件方案。

传统分立式光模块中,测试更多集中在器件封装后及模块成品阶段;而硅光方案将波导、调制器、探测器、耦合器等光电结构集成至同一硅光芯片,任一片上结构的性能波动均可能影响后续耦合、封装及模块良率,因此需要在晶圆、裸 Die 和封装级等多个环节提前导入检测与筛选。由此,硅光芯片测试设备不再局限于传统光模块成品测试,而是向晶圆级光电协同测试、KGD 裸 Die 分选和 CoC 封装级老化等环节延伸。

2、AI 数据中心与高速光互连需求爆发,硅光制造工艺走向成熟,驱动测试设备放量

AI 算力需求的井喷直接拉动了硅光芯片的市场规模,测试设备的主要终端应用市场——数据通信领域,在 2023 年已占整体应用的 88.17%,其核心驱动力来自高速数据中心互联场景中 800G/1.6T 可插拔光模块需求的持续增长。进入 2025 至 2026 年,AI 数据中心、800G/1.6T 光互连以及共封装光学(CPO)等场景的规模化落地,进一步显著提升了晶圆级测试在硅光制造流程中的战略重要性。

其次,硅光制造工艺正从研发验证走向规模化量产,晶圆级光电测试已成为硅光产业化的必要基础设施。随着台积电等晶圆代工厂加速推进硅光工艺平台落地,硅光 foundry、IDM 及光模块厂商对自动化晶圆级测试系统的采购需求,正从工程验证系统向产线批量导入迁移。由于封装后测试与返修成本极为高昂,在晶圆级完成良率筛选和已知良品裸片识别,已成为控制量产经济性的关键环节。

与此同时,CPO 与 PIC/EIC 混合键合结构正催生全新的测试工序。以 Advantest 公开的硅光测试路径为例,检测工序已被划分为四道 Insertion,分别对应 PIC 晶圆测试、光电双面测试、光引擎组装测试和系统级验证,每道工序均产生独立的设备需求。CPO 测试涵盖 EIC 与 PIC 两条独立战线——前者采用标准 CMOS 工艺,后者采用硅光 SOI 工艺,两者在对位精度(EIC 为微米级,PIC 需纳米级 ± 100nm 以下)、测试时长及所需设备上均存在显著差异,由此催生了全新的设备品类与市场空间。

3、硅光芯片测试设备竞争格局:国际巨头主导高端,本土企业加速追赶

全球硅光芯片测试设备市场已形成由美国、日本与中国大陆企业共同主导的多元竞争格局,但在技术层级上,国际巨头仍牢牢把控着系统级测试解决方案与 ATE 测试平台的高端话语权。Advantest、Teradyne、Keysight 等 ATE 测试平台巨头凭借成熟的半导体自动测试设备生态,正积极整合光学测试能力,加速构建成套化解决方案;FormFactor、MPI Corporation、东京电子等探针台与光学耦合专业厂商,则在精密晶圆探针台与亚微米级光学对准领域积累了深厚的技术壁垒;而 EXFO、FIBERPRO 等光通信测试专业厂商,亦在光模块与光器件测试端保有一席之地。

面对这一格局,本土企业正从多个维度实现关键突破。当前,硅光晶圆测试系统正经历从 " 仪器商 + 探针台厂 + 系统集成商松散拼装 " 向 "ATE 平台 + 光学探针 / 对准 + 光学仪器 + 工厂自动化 " 成套方案演进的结构性变革,头部 ATE 企业的入场显著提升了量产客户对吞吐量、数据接口与服务体系的要求,这恰好为本土化供应链创造了更大的导入窗口与市场机遇,推动国产设备从 " 配套角色 " 走向 " 方案主导 " 的新阶段。

资料来源:观研天下整理(WYD)

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